SF6气体综合分析仪
- 一、功能概述
YDL-IA5000型SF6气体分析仪主要用于控制SF6断路器及SF6组合电器中的SF6气体质量,如测量SF6气体微水纯度和杂质。该分析仪在使用一个气体接口情况下可以同时测量SF6气体中的杂质(分解产物总量),SF6-空气或 SF6-N2混合气体中的SF6气体纯度及SF6气体的微水含量。测量值能指定和存储,随供的软件可以传送数据并在PC机上进行评估
- 二、功能特点
- 离子迁移光谱计(IMS),测量SF6气体中的微量杂质
- 百分比测量,确定SF6气体中的空气含量
- 湿度测量,确定SF6气体中的微水含量。
- 三、技术指标
- IMS(杂质)测量范围:0-5000ppm
- 测量精度:±100ppm
- 气体湿度测量范围:-45℃- + 10℃(露点)
- 气体湿度测量精度:±4℃
- 气体百分比测量范围:0-100 Vol%SF6
- 气体百分比测量精度:±1%(基于SF6-N2混合气体)
- 入口压力:Pe 0.5-14 bar
- 流量:约33升/小时(三种模式一起)
- 测量时间:约5分钟