SF6气体综合分析仪

• 一、功能概述

    YDL-IA5000型SF6气体分析仪主要用于控制SF6断路器及SF6组合电器中的SF6气体质量，如测量SF6气体微水纯度和杂质。该分析仪在使用一个气体接口情况下可以同时测量SF6气体中的杂质（分解产物总量），SF6-空气或 SF6-N2混合气体中的SF6气体纯度及SF6气体的微水含量。测量值能指定和存储，随供的软件可以传送数据并在PC机上进行评估

• 二、功能特点

1. 离子迁移光谱计（IMS），测量SF6气体中的微量杂质
2. 百分比测量，确定SF6气体中的空气含量
3. 湿度测量，确定SF6气体中的微水含量。

• 三、技术指标

1. IMS（杂质）测量范围：0-5000ppm
2. 测量精度：±100ppm
3. 气体湿度测量范围：-45℃- + 10℃（露点）
4. 气体湿度测量精度：±4℃
5. 气体百分比测量范围：0-100 Vol%SF6
6. 气体百分比测量精度：±1%（基于SF6-N2混合气体）
7. 入口压力：Pe 0.5-14 bar
8. 流量：约33升/小时（三种模式一起）
9. 测量时间：约5分钟